環(huán)境可靠性檢測(cè)，是評(píng)估產(chǎn)品在特定環(huán)境、規(guī)定時(shí)間內(nèi)可靠性的一種檢測(cè)方法。環(huán)境可靠性檢測(cè)能夠客觀反映出，產(chǎn)品在設(shè)計(jì)、生產(chǎn)、運(yùn)輸?shù)拳h(huán)節(jié)中存在的缺陷，有利于改善產(chǎn)品完好度，提高產(chǎn)品質(zhì)量，減少維修成本。環(huán)境可靠性檢測(cè)的方面還有產(chǎn)品的壽命特征，對(duì)于大部分電子產(chǎn)品而言，使用壽命是可靠性的zui主要的指標(biāo)。環(huán)境可靠性檢測(cè)在電子產(chǎn)品領(lǐng)域也等同于壽命測(cè)試，可分為存儲(chǔ)壽命（非工作狀態(tài)）試驗(yàn)和工作壽命（工作狀態(tài)）試驗(yàn)。由于測(cè)試產(chǎn)品使用壽命的時(shí)間較長(zhǎng)，一般都會(huì)采用加速壽命測(cè)試，也就是在不改變產(chǎn)品的失效機(jī)理和增添新的失效因子的前提下，提高試驗(yàn)應(yīng)力，以加速產(chǎn)品的失效過程。這樣做不僅可以大大縮短測(cè)試周期，還能夠降低環(huán)境可靠性檢測(cè)費(fèi)用，被普遍應(yīng)用。環(huán)境可靠性測(cè)試中不會(huì)等到所有樣品失效才終止測(cè)試，即大部分壽命測(cè)試都是截尾試驗(yàn)。根據(jù)截尾方式可靠性壽命檢測(cè)可以分為：無替換定時(shí)截尾測(cè)試、有替換定時(shí)截尾測(cè)試、無替換定數(shù)截尾檢測(cè)、有替換定數(shù)截尾檢測(cè)。這里涉及多個(gè)檢測(cè)因素，是否替換、固定測(cè)試時(shí)間、固定失效樣品數(shù)，因此在后期進(jìn)行數(shù)據(jù)分析時(shí)，需要涉及多種分析方法，常用的統(tǒng)計(jì)分析有：概率紙圖解法、zui大似然估計(jì)法、線性無偏估計(jì)法、線性不變估計(jì)法等。

值得注意的是，環(huán)境可靠性大多數(shù)都是采用外加應(yīng)力測(cè)試，通過施加應(yīng)力提前發(fā)現(xiàn)早期失效產(chǎn)品并剔除。要求掌握產(chǎn)品的失效分布和失效機(jī)理，確定合理的檢測(cè)項(xiàng)目，并加以測(cè)試。較完善的環(huán)境可靠性檢測(cè)包含以下五種檢測(cè)方法：

1、目檢（顯微鏡鏡檢、X射線照相、紅外掃描等）

2、電性能測(cè)試

3、密封檢漏

4、環(huán)境應(yīng)力篩選（恒定加速、機(jī)械振動(dòng)、沖擊、溫度循環(huán)、熱沖擊等）

5、壽命篩選（溫度沖擊、光老化、疲勞耐久等）